www.przemysl-polska.com
15
'13
Written on Modified on
Keyence International
IM-6600: systemy pomiarowe serii IM dla szerszego zakresu aplikacji.
Oferowane przez firmę Keyence urządzenia pomiarowe IM do określania wymiarów na bazie optyki zrewolucjonizowały rynek inspekcji wizyjnej, zapewniając znaczne skrócenie czasu pomiaru. Nowa wersja o dwukrotnie szerszym polu widzenia (200 x 100 mm), wyposażona w nowe opcje podświetlenia pozwala na analizę większych i bardziej złożonych obiektów.

Szeroki zakres pomiaru rozszerza obszar zastosowań
Kontroler IM-6600 może współpracować z jedną z czterech dostępnych głowic —IM-6015/IM-6025 (ogólnego zastosowania), IM-6140 (precyzyjną o powtarzalności 0,1 µm) oraz z nową głowicą IM-6120 o szerokości pola widzenia zwiększonej do 200 mm. Choć model IM-6120 wyposażono w stolik pomiarowy o powierzchni 200 x 100 mm, jego wymiary zewnętrzne są stosunkowo małe. Dostępne są obecnie cztery typy podświetlenia — przechodzące, epi-iluminacja (do wymiarowania detali na górnej powierzchni obiektu), epi-iluminacja pierścieniowa (do wymiarowania obiektów połyskliwych lub powierzchni stożkowych) oraz iluminacja pod małym kątem (do pomiaru obiektów o niejednolitej powierzchni lub konturów trudnych do wykreślenia ze względu na rozmyte brzegi).

Nakrętka plastikowa/kondensator w obudowie wytłaczanej.
W nowej aplikacji poprawiono statystyczną obróbkę danych, które są teraz wyodrębniane w celu zaimportowania do standardowego arkusza kalkulacyjnego. Użytkownik może wybrać konkretny wzorzec dokumentu i oznakować go za pomocą własnego logo lub dowolnego elementu graficznego. Funkcja trendów/histogramów zapewnia monitorowanie na bieżąco trendów produkcyjnych i zmian mierzonych parametrów, co pozwala zwiększyć zysk produkcyjny.