Pierwszy system do profilowania temperatury w procesach nakładania powłok antyrefleksyjnych na ogniwa PV

Cambridge, UK – Firma Datapaq, współpracująca między innymi z firmami produkcyjnymi z sektora fotowoltaicznego, zaprojektowała pierwszy na rynku system umożliwiający monitorowanie temperatury ogniw PV w procesach nakładania pokryć antyrefleksyjnych. System SolarPaq przechodzi przez komory procesowe razem z produktami, gdzie precyzyjnie rejestruje temperaturę nawet w momencie aktywowania plazmy. Umożliwia to operatorom optymalizowanie procesów nakładania pokryć, a co za tym idzie również ich sprawności. Rejestrator z zabezpieczeniem termicznym, specjalnie zaprojektowany do tego rodzaju zastosowań, charakteryzuje się grubością wynoszącą zaledwie 18 mm i powierzchnią 146 mm2. Dzięki temu mieści się wewnątrz standardowego zasobnika na ogniwo, co pozwala zapewnić ciągłość produkcji. Bariera termiczna VB7400, wykonana w oparciu o unikalną technologię izolacyjną z płytą refleksyjną, zapobiega odgazowywaniu w procesach próżniowych i wytrzymuje ciężkie termiczne i elektryczne warunki pracy wewnątrz komory plazmowej.

Fot.: Nowatorska technologia zabezpieczenia termicznego daje możliwość profilowania temperatury w procesach próżniowych

Nowy system, choć zoptymalizowany do zastosowań w procesie nakładania powłok antyrefleksyjnych, może też znaleźć zastosowanie w różnego typu niskotemperaturowych procesach pokrywania próżniowego, na przykład przy produkcji soczewek czy powlekaniu szkła. Może być wykorzystywany cyklicznie zarówno przy konfiguracji procesów, jak i do regularnego monitorowania. Po zakończeniu procesu, zarejestrowany profil temperaturowy może być zgrany z rejestratora DQ1863 i poddany analizie za pomocą oprogramowania Solar Insight, oferującego wiele funkcji specjalistycznych.

  Zapytaj o więcej informacji…